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激光的發明加快了人類文明的進步。激光以其高相干性，高能量等特點，使其已經廣泛應用于人類生活的各個領域，例如激光焊接，激光測距，激光雷達等等。其中激光加工也是一個重要領域。傳統的激光加工一般使用納秒量級脈沖激光或是像CO2激光（10.6um）這樣的強激光，隨著飛秒激光的逐漸普及，使用成本逐漸降低，使用飛秒激光作為加工光源也越來越受到關注。
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2024-05-20
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北京卓立漢光儀器有限公司結合多年的拉曼光譜儀研制經驗開發出特種光纖探頭拉曼解決方案，可以用于特殊場景的在線分析。
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SPM300系列半導體參數測試儀基于拉曼光譜法的半導體參數測試儀，具有非接觸、無損檢測、特異性高的優點。可以對半導體材料進行微區分析，空間分辨率＜ 800nm （典型值），也可以對樣品進行掃描從而對整個面進行均勻性分析。設備具有智能化的軟件，可對數據進行擬合計算，直接將載流子濃度、晶化率、應力大小或者分布等結果直觀的展現給用戶。系統穩定，重復性好，可用于實驗室檢驗或者產線監測。
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SPM600系列半導體參數分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。40μm 探測光斑，實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源，例如超連續白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導體激光器，鹵素燈，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求
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超快熒光測試系統FLIM 顯微熒光壽命成像技術（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一種在顯微尺度下展現熒光壽命空間分布的技術，由于其不受樣品濃度影響，具有其他熒光成像技術無法代替的優異性能，目前在生物醫學工程、光電半導體材料等領域是一種重要的表征測量手段。
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Omni-λ750i系列“影像譜王”光柵單色儀/光譜儀雙出口可同時配置兩個CCD；
Omni-λ750i系列
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